十月_先進封裝設備材料專題|2.5D/3D 封裝之重要性與關鍵的製程點(下)
2.5D的封裝技術介於傳統2D封裝和成熟的3D封裝之間,使用中介層做為橋梁,連接各個晶片並提供高速的通訊接口,這種排列方式可以在單個封裝上具備更多的靈活性。其中的技術涉及矽中介層與TSVs的相互結合,晶片通常使用MicroBump 的技術連接到中介層。而這種2.5D的形式非常適合晶片尺寸較大、引腳密度較高的情況,晶片通常以倒裝的形式安裝在基板上。而2.5D的封裝方式相較傳統(2D)的封裝方式可增強性能、減少
2.5D/3D封裝技術簡敘與目前關鍵的製程站點
在2.5D IC 中,以台積電的CoWoS 技術為代表,其中可以分成「CoW」和「WoS」來看。「CoW(Chip-on-Wafer)」是用矽中介板把晶片連起來;「WoS(Wafer-on-Substrate)」則是將晶片堆疊在基板上。如2023年八月專題中[先進封裝技術在高性能運算晶片應用狀況剖析_下 的圖五] 提到依據中介層材料類型與封裝面積(光罩比例)將CoWoS分成CoWoS-S、CoWoS-R與CoWoS-L等三類,如下圖四。
- CoWoS-S 是使用單片矽中介層(Si Interposer)和矽通孔(TSVs),實現晶片與基板之間的高速電信號直接傳輸,為目前(2024~2025年)市面上主流,由於Si Interposer 與Die 使用面積大因此缺點是生產成本較高。
- CoWoS-R 利用 InFO 技術讓有機中介層替代 CoWoS-S 的矽中介層,有機中介層具有精細間距的 RDL,為 HBM(高帶寬記憶體)與 SoC 晶片或晶片與基板之間提供高速連接。由於有機中介層本身具有柔韌性,由聚合物和銅線組成,充當壓力緩衝器,減少了基板與中介層之間熱膨脹係數不匹配引起的可靠性問題。CoWoS-R 提供了優越的可靠性和良率,也可以使新的封裝可以擴展其尺寸,以滿足更複雜的功能需求。
- CoWoS-L結合 CoWoS-S 和 InFO 技術的優勢,使用 LSI(局部矽互連)晶片的中介層提供最靈活的整合。用於晶片間的互連和 RDL 層的電源和信號傳輸。CoWoS-L 保留了 CoWoS-S 的吸引特徵,即矽通孔(TSVs),這也減少了使用大矽中介層在 CoWoS-S 中引起的良率或成本問題。
圖四、CoWoS的三種分類

資料來源:台積電
CoWoS製程對晶圓廠而言,算是相對容易的製造,因此良率穩定。以CoWoS-S與-R的製程來看,其中的TSVs所需要的 Deep RIE製程、Interposer 需要的Wafer Thinning或是uBump後的Molding相關的機台或材料等都是相當關鍵。在CoWoS_L的製程當中,目前的困難點在於多重曝光(一個CoWoS-L die 大小通常都是五張光罩以上),因此對準就顯得非常重要;另外LSI(包含了許多被動元件,如IPD、eDTC與IVR等base logic die)再Molding + Grinding後 RDL前會用TSVs 吃出許多Fine Pitch約在0.5um左右的洞,然後填入銅,接著在用uBumping的方式與SoC及HBM連接。在此可能會導致線寬太小而bridge,換句話說同樣的在這裡的TSVs機台、Molding相關的機台或材料等都是相當關鍵。
在3D IC的部分,如2023年八月專題中[先進封裝技術在高性能運算晶片應用狀況剖析_下 ] 提到相關介紹,台積以SoIC 包含了2.5D/3D IC的部分。在製程中以鍵合(Bonding)為最關鍵步驟,是將晶片進行對準並接合以形成堆疊。以往推疊晶片是以微凸塊連接,隨著I/O接點間距往10μm甚至sub micro以下發展後,半導體廠紛紛採用無凸塊(Bumpless)的混合鍵合(Hybrid Bond),透過高溫擴散方式讓兩晶片之矽穿孔的銅導線直接接合,可大幅增加I/O接點密度。但因線寬細小且晶片緊密堆疊,因此對alignment要求非常的精密,並且還須解決因緊密堆疊所產生的散熱問題。






